銀やニッケルなどの導電性金属粉末、バインダー、有機溶媒を組み合わせ、導電性、抵抗性、絶縁性を持つペーストを製造しています。当社独自の配合技術と、高度な解析装置を駆使することで、お客様のニーズに合わせた高機能な電子材料を提供し、電子部品の小型化・高性能化に貢献しています。
Research Fields
研究分野の紹介
当社は、ニッケル（Ni）を中心とした金属材料の微細化技術を強みとしています。特に、導電性・抵抗性・絶縁性を持つ各種ペーストの製造に不可欠な、微細なニッケル粉末の製造と分散技術に優れています。
粉末・ペースト分野
電子部品用のペースト製品を作るためには、粉末製造技術と塗料化技術が重要です。そのため、当社は、用途に最適な特性を持つ粉末の開発技術と粉末特性を最大限に活かすペースト化技術の開発に取り組んでおり、それぞれの独創性と両者の相乗性を活かすことに注力しています。粉末開発からペースト設計まで”ワンストップ”の技術での商品開発ができることが当社の強味です。
関連製品
粉末
量子ドット分野
量子ドットはサイズが僅か1 nm異なるだけで、大きく特性が変わってしまうような材料です。また、数nmの小さな粒子の中にコア/シェル構造という複雑な構造を作りこまなければいけません。当社は量子ドットのサイズを原子1層分以下の精密さで制御し、InP量子ドットで世界一狭いスペクトル幅（FWHM 31 nm）を達成しました。
当社はそのような精密なサイズ制御技術・構造制御技術を培い、量産スケールでの高品質な量子ドット製造を達成しています。これまで量産化が難しいと考えられていた材料ですが、当社が世界最大スケールでの量産に成功したことで様々な製品への利用が広がり、ディスプレイ業界の発展に貢献しています。
関連製品
QD -量子ドット-Equipment
装置
様々な分析技術を駆使することにより、高度な解析を可能にし、見えない特性を明らかにします。
Ｘ線光電子分光（XPS）
外観だけではわからない粒子の表面性状をX線を用いて詳細に分析できます。見えない特性も本装置で明らかにします。
電界放出形走査電子顕微鏡（FE-SEM）
粉末分析において最も有用な情報は、”見た目”です。粒子の精細な外観観察は最重要な分析手段です。
ガスクロマトグラフィー質量分析（GC-MS）
有機成分の分析には、ガスクロマトグラフィーは非常に有効な方法です。そこに、質量分析を組み合わせることでさらに精度の高い解析が可能になります。
走査型透過電子顕微鏡（STEM）
細く絞った電子線で試料をスキャンし、原子レベルで観察できる高解像度な分析装置です。EDSやEELSといった分析機能も備えており、元素マッピングや電場・磁場の可視化など、多岐にわたる材料分析が可能です。
